Manhattan picture worlds : Thomas Wrede ; [der Katalog erscheint anlässlich der Ausstellung: Manhattan, Picture Worlds, 05. März - 25. April 2009, New Quarters Beck & Eggeling, Düsseldorf]
שמור ב:
| פורמט: | Conference Proceeding ספר |
|---|---|
| שפה: | German English |
| יצא לאור: |
Bielefeld [u.a.]
: Kerber
, 2009
|
| סדרה: | Kerber photoart
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
| פריטים קשורים: | Rezensiert in:
[Rezension von: Thomas Wrede, Manhattan picture worlds] |
| הערות המחבר: | mit Texten von Christoph Schaden; Marshall Berman |
| תאור פריט: | Text in engl. u. dt. Spr |
|---|---|
| תיאור פיזי: | 117 S. überw. Ill. 32 cm |
| ISBN: | 9783866782440 |
