Manhattan picture worlds : Thomas Wrede ; [der Katalog erscheint anlässlich der Ausstellung: Manhattan, Picture Worlds, 05. März - 25. April 2009, New Quarters Beck & Eggeling, Düsseldorf]
Gespeichert in:
| Dokumenttyp: | Tagungsbericht Buch |
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| Sprache: | German English |
| Veröffentlicht: |
Bielefeld [u.a.]
: Kerber
, 2009
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| Schriftenreihe: | Kerber photoart
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| Schlagwörter: | |
| Online Zugang: | Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
| Bibliogr. Hinweis: | Rezensiert in:
[Rezension von: Thomas Wrede, Manhattan picture worlds] |
| Verantwortlich: | mit Texten von Christoph Schaden; Marshall Berman |
| Beschreibung: | Text in engl. u. dt. Spr |
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| Beschreibung: | 117 S. überw. Ill. 32 cm |
| ISBN: | 9783866782440 |
