Manhattan picture worlds : Thomas Wrede ; [der Katalog erscheint anlässlich der Ausstellung: Manhattan, Picture Worlds, 05. März - 25. April 2009, New Quarters Beck & Eggeling, Düsseldorf]
保存先:
| フォーマット: | 会議録 図書 |
|---|---|
| 言語: | German English |
| 出版事項: |
Bielefeld [u.a.]
: Kerber
, 2009
|
| シリーズ: | Kerber photoart
|
| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
| 関連資料: | Rezensiert in:
[Rezension von: Thomas Wrede, Manhattan picture worlds] |
| 著者紹介: | mit Texten von Christoph Schaden; Marshall Berman |
| 記述事項: | Text in engl. u. dt. Spr |
|---|---|
| 物理的記述: | 117 S. überw. Ill. 32 cm |
| ISBN: | 9783866782440 |
