Manhattan picture worlds : Thomas Wrede ; [der Katalog erscheint anlässlich der Ausstellung: Manhattan, Picture Worlds, 05. März - 25. April 2009, New Quarters Beck & Eggeling, Düsseldorf]
Uloženo v:
| Médium: | Konferenční příspěvek Kniha |
|---|---|
| Jazyk: | German English |
| Vydáno: |
Bielefeld [u.a.]
: Kerber
, 2009
|
| Edice: | Kerber photoart
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
| Příbuzné jednotky: | Rezensiert in:
[Rezension von: Thomas Wrede, Manhattan picture worlds] |
| Poznámky autora: | mit Texten von Christoph Schaden; Marshall Berman |
| Popis jednotky: | Text in engl. u. dt. Spr |
|---|---|
| Fyzický popis: | 117 S. überw. Ill. 32 cm |
| ISBN: | 9783866782440 |
